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| 温度 | 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 |
| 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 | |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
|
相对湿度 |
电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 | |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 换气次数 | 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 | |
| 风速（截面风速） | 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
|
（静）压差 |
洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 | |
| 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 | |
| 洁净度（悬浮粒子数） | 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 医药工业洁净室(区)悬浮粒子的测试方法 | GB/T 16292-2010 | |
| 洁净室及相关受控环境 第1部分：空气洁净度等级 | GB/T 25915.1-2010 | |
| 沉降菌 | 医药工业洁净室(区)沉降菌的测试方法 | GB/T 16294-2010 |
| 浮游菌 | 医药工业洁净室(区)浮游菌的测试方法 | GB/T 16293-2010 |
|
噪声 |
电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
|
照度 |
电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 高效过滤器检漏 | 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 | |
| 风量 | 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 |
| 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 | |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 | |
| 医药工业洁净厂房设计规范 | GB 50457-2008 | |
| 自净时间 | 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 |
| 医药工业洁净厂房设计规范 | GB 50457-2008 | |
| 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 | |
| 气流流型（气流方向检测与显形检查） | 洁净厂房设计规范 | GB 50073-2013 |
| 电子工业洁净厂房设计规范 | GB 50472-2008 | |
| 洁净室及相关受控环境 第3部分：检测方法 | GB/T 25915.3-2010 |
